奥林巴斯BX53-P偏光显微镜结合了UIS2远场校正光学元件和独特的光学设计，在偏振光应用中具有卓越的性能。扩展的兼容补偿器系列使BX53-P显微镜具有足够的多功能性，可以处理几乎任何领域的观察和测量应用。

          BX3M系列采用了模块化设计，为广泛的材料学和工业应用提供了多样化的解决方案。 

            BX3M改进了与奥林巴斯Stream软件的集成性，从而为常规显微镜检查和数码成像用户提 供了从观察到报告创建的无缝工作流程。

高级的显微镜观察

   显微检查任务常常需要用很长的时间来调节显微镜设置、获取图像，以及进行必要的测量， 从而得到令人满意的报告。用户有时需要投入时间和金钱去完成专业的显微镜培训，或只了解了显微镜全部功能的很小部分就开展工作。

   直观的显微镜控制舒适便于使用

   显微镜检查任务常常需要用很长的时间来调节显微镜设置、获取图像，以及进行必要的测量，从而得到令人满意的报告。用户有时需要投入时间和金钱去完成专业的显微镜培训，或只了解了显微镜全部功能的很小部分就开展工作。

BX3M通过优良的设计和便捷的控制功能，简化了复杂的显微镜检查任务。用户不需要长时间的培训即可掌握显微镜的大多数功能。BX3M方便而舒适的操作还改善了图像的再现性，最大程度减少了认为错误。

针对各种检查和分析任务的功能

    BX3M保留了常规显微镜检查的传统衬度对比法，比如明场、暗场、偏光和微分干涉。随着新材料的发展，现在可以使用先进的显微镜检查技术来进行更精确和可靠的检查，从而解决了以往很多使用传统衬度对比法检查时遇到的缺陷检测方面的困难，新的照明技术和奥林巴斯Stream图像分析软件内的图像获取选项为用户提供了评估样品、文档记录的更多选择。此外，BX3M还可用于比传统型号更大、更重、更特殊的样品。

       UIS2光学器件提供出色的可扩展性             

UIS2光学系统最大限度地发挥了无限远校正的优势，有助于防止光学显微镜性能下降并消除放大倍率因素，即使将偏振元件（如分析仪、着色板或补偿器）引入光路也是如此。BX53-P显微镜还接受BX3系列显微镜以及相机和成像系统的中间附件。 

                六种不同的补偿器可用于测量岩石和矿物薄片中的双折射。测量延迟水平范围为 0 至 20λ。为了便于测量和高图像对比度，可以使用Berek和Senarmont
                补偿器，它们改变了整个视场中的延迟水平。